东莞市卓新检测科技有限公司
解决方案
SOLUTIONS
产品描述
半导体极高测试
检测需求:
1、产品公差《0.02mm; 2、精度要求＜5um; 3、整体节拍＜20s; 4、如图所示，测量A点到B面的距离，以及B面到C面的距离；
1、产品要求精度为5um, 3D激光的精度为l.lum,参数上能满足需求；
2、产品公差为20um，测量动态重复性最大为3um,基本能满足需求；
3、理论速度可以达到180mm/s,产品长度180mm左右，整个扫完需要扫4次，扫描节拍在6s以内;
4、后续生产需要对产品做物理定位，保证产品能完整扫描出来；
5、该项目检测可行性高，后续设备和传感器整体重复性需要保持在5um以内；
点到面的距离
面到面的距离
上一个
无
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手机玻璃3D激光扫描
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